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介質損耗測試儀的兩種接線法介紹

更新時間:2019-06-23   點擊次數:1879次

介質損(sun)耗測(ce)試儀(yi)儀(yi)器為升(sheng)壓(ya)與測(ce)量一(yi)體(ti)化結構,輸出電壓(ya)2.5KV~10KV五檔可調,以(yi)(yi)適應各種需要,在測(ce)量時無需任(ren)何外部設備。那么介質損(sun)耗測(ce)試儀(yi)可以(yi)(yi)采用什么方法(fa)(fa)接線呢?下面小(xiao)編為大家(jia)介紹兩種接線法(fa)(fa),供大家(jia)參考。

1、正接(jie)(jie)線(xian)法(fa):通電前(qian),先將“試(shi)驗電壓”開(kai)(kai)(kai)關(guan)(guan)(guan)置(zhi)(zhi)于“關(guan)(guan)(guan)”位置(zhi)(zhi),確(que)認“內(nei)高壓允許”開(kai)(kai)(kai)關(guan)(guan)(guan)已關(guan)(guan)(guan)閉(bi),將UH端子(zi)用(yong)線(xian)纜(lan)的(de)大鐵(tie)夾(有UH標(biao)記),接(jie)(jie)至被試(shi)品(pin)高壓端,將IX端子(zi)用(yong)另(ling)一根線(xian)纜(lan)的(de)芯線(xian)線(xian)頭(紅色,有CX標(biao)記),接(jie)(jie)被試(shi)品(pin)CX低壓端,它(ta)的(de)屏(ping)蔽(bi)線(xian)頭(黑色,有E標(biao)記)接(jie)(jie)地(di),如果試(shi)品(pin)低壓端有屏(ping)蔽(bi)端子(zi),可(ke)用(yong)導線(xian)將該端子(zi)與(yu)“E”連接(jie)(jie)后接(jie)(jie)地(di)。通電后,按“正接(jie)(jie)”鍵(jian)。選好的(de)正接(jie)(jie)線(xian)方式:用(yong)“試(shi)驗電壓”開(kai)(kai)(kai)關(guan)(guan)(guan)選好電壓,打開(kai)(kai)(kai)“內(nei)高壓允許”開(kai)(kai)(kai)關(guan)(guan)(guan),然后按“起動”鍵(jian)開(kai)(kai)(kai)始測試(shi)。

2、反接(jie)線法:通(tong)電前,先將“試(shi)驗(yan)電壓”開(kai)(kai)關(guan)置于(yu)“關(guan)”位置,確認“內(nei)高壓允(yun)許(xu)”開(kai)(kai)關(guan)已關(guan)閉,將UH端子(zi)(zi)接(jie)地,將UH端子(zi)(zi)接(jie)地,將IX的芯線(有CX標(biao)記)接(jie)至被試(shi)品CX的高壓端。通(tong)電后,按“反接(jie)”鍵,選(xuan)好反接(jie)線方式:用“試(shi)驗(yan)電壓”開(kai)(kai)關(guan)選(xuan)好電壓,打開(kai)(kai)“內(nei)高壓允(yun)許(xu)”開(kai)(kai)關(guan),然后按“起動”鍵開(kai)(kai)始測試(shi)。

相(xiang)關提示:做正、反接(jie)(jie)測量時(shi)(shi)無須(xu)人(ren)工(gong)干預(yu),測試線(xian)(xian)的接(jie)(jie)法與儀器操作測量方(fang)式(shi)(shi)相(xiang)符,如使(shi)用正接(jie)(jie)法的接(jie)(jie)線(xian)(xian)方(fang)式(shi)(shi),測試時(shi)(shi),按“反接(jie)(jie)”鍵測量,也能得出結果(guo),但該結果(guo)不真實可(ke)靠。

做外接方式測(ce)(ce)量時,中途(tu)會顯(xian)示“請關(guan)閉(bi)外接高壓(ya)!”并停(ting)一下(xia),等候人(ren)工將外加高壓(ya)關(guan)閉(bi),關(guan)閉(bi)外高壓(ya)后(hou)(必須關(guan)閉(bi)外高壓(ya)),再按一次(ci)“起(qi)動”鍵才(cai)能完成測(ce)(ce)試。

除了以上兩(liang)種接線法,儀器(qi)還(huan)能(neng)夠(gou)使用內高壓(ya)、外(wai)高壓(ya)、內標準(zhun)、外(wai)標準(zhun)、自激(ji)法等多種方式測試(shi),在外(wai)標準(zhun)外(wai)高壓(ya)情況下可以做高電(dian)壓(ya)(大于10kV)介質損耗。另外(wai)介質損耗測試(shi)儀測試(shi)過程(cheng)中如遇危及安全的特殊情況時,可緊(jin)急關閉總電(dian)源。

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